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電子產(chǎn)品高溫低溫老化測試方法步入式高低溫試驗(yàn)箱
點(diǎn)擊次數(shù):637 更新時間:2023-09-06

電子產(chǎn)品高溫低溫老化測試方法步入式高低溫試驗(yàn)箱:

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步入式高低溫試驗(yàn)主要用過測試電子產(chǎn)品、零部件在在高溫、低溫綜合環(huán)境下各項(xiàng)性能指標(biāo)。而對于汽車來說,不管是IC、儀表板、馬達(dá)、藍(lán)牙、車燈、外殼、還是整車等都需要用到高低溫試驗(yàn)確保其性能可以在汽車行駛的過程中正常穩(wěn)定運(yùn)行。步入式高低溫試驗(yàn)箱是為了滿足用戶對大容積試驗(yàn)空間的要求而設(shè)計(jì)的,它從結(jié)構(gòu)上可分為整體焊接式和拼裝式。

準(zhǔn)備測試設(shè)備:需要使用能夠控制溫度的高低溫測試設(shè)備,如高低溫循環(huán)箱、烤箱等。

制定測試計(jì)劃:根據(jù)產(chǎn)品的規(guī)格書和測試標(biāo)準(zhǔn),制定詳細(xì)的測試計(jì)劃,包括測試條件、測試持續(xù)時間、測試結(jié)果等。

樣品準(zhǔn)備:選擇一定數(shù)量的樣品進(jìn)行測試,并按照產(chǎn)品規(guī)格書要求的方式進(jìn)行安裝和連接。

預(yù)熱:在進(jìn)行測試前,需要將測試設(shè)備預(yù)熱至測試溫度,以確保測試環(huán)境穩(wěn)定。

開始測試:將樣品放入測試設(shè)備中進(jìn)行測試,測試時間和溫度要符合測試計(jì)劃中的要求。

監(jiān)測和記錄:測試過程中需要及時監(jiān)測樣品的工作狀態(tài),如電流、電壓、功耗等,并記錄測試結(jié)果。

測試后處理:測試結(jié)束后,需要對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理,如制作測試報告、評估產(chǎn)品的性能和可靠性等。

高低溫測試檢測標(biāo)準(zhǔn):

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫 GB/T 2423.1-2008IEC 60068-2-1:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫 GB/T 2423.2-2008 ,IEC 60068-2-2:2007

試驗(yàn)條件:將電子產(chǎn)品放入高低溫試驗(yàn)箱通電老化

高溫參數(shù)設(shè)置:溫度45℃、濕度80% RH、時間24 hrs

低溫參數(shù)設(shè)置:低溫0℃、時間24 hrs

試驗(yàn)方法:

試驗(yàn)一:高溫運(yùn)行

1、樣品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi),

2、箱內(nèi)溫度逐漸升溫至所設(shè)置的溫度,當(dāng)電子產(chǎn)品達(dá)到溫度穩(wěn)定后,接通電源持續(xù)工作16小時,

3、樣品斷開電源,箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下,

4、恢復(fù)兩小時;

5、對試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測。

試驗(yàn)二:低溫運(yùn)行

1、電子產(chǎn)品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi);

2、高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度逐漸降低至所設(shè)置的溫度,當(dāng)樣品達(dá)到溫變穩(wěn)定后擱置2小時,然后接通電源持續(xù)工作1小時;

3、樣品斷開電源,試驗(yàn)箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下,

4、箱內(nèi)溫度上升至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下,

5、恢復(fù)兩小時;

6、對試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測;判定標(biāo)準(zhǔn):